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DR平板探测器结构组成部分

发布日期:2020-10-28 17:12 浏览次数:

  DR技术的核心是x射线平板探测器。X射线平板探测器是一种精密而珍贵的设备,对成像质量起着决定性的作用。熟悉x射线平板探测器的性能指标将有助于我们提高成像质量。并减少x射线辐射剂量。下面dr平板成像系统厂家的小编就来详细说明一下。

DR平板成像系统

  非晶态硒 (a-Se) 是一种直接x射线平板探测器结构,主要由集电极基体、硒层、介电层、顶部电极、和保护层。集电极矩阵由以阵列元件方式布置的薄膜晶体管 (TFTs) 组成。

  X射线平板检测器顶部电极连接到高压电源。当x射线入射时,由于无定形硒表面的高压电源形成的电场,它们只能垂直穿过绝缘层,x射线半导体和电子密封层沿电场方向到达无定形硒。不会有横向偏差和光散射。无定形硒阵列直接将x射线转换成电信号,存储在存储电容器中,脉冲控制栅极电路打开薄膜晶体管,并将存储在存储电容器中的电荷发送到电荷放大器的输出,以完成光电信号的转换。TheX-ray平板检测器数字转换器被转换成数字图像并输入计算机,计算机在监视器上恢复图像,医生观察监视器以进行直接诊断。

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